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本发明公开了一种用于半定量测定安培力影响因素的教学装置，包括底座、立柱，立柱表面设有刻度线，立柱一侧设有第一滑块，第一滑块设置在底座表面的纵向滑轨上，包括止位块，止位块位于第一滑块与立柱之间的纵向滑轨上，第一滑块上设有凹槽，凹槽两边设有挡板...
该专利属于王仁泉所有，仅供学习研究参考，未经过王仁泉授权不得商用。

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