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本发明公开了一种测试方法和装置。其中,该方法包括:在执行测试任务的过程中,获取待测试软件所出现的异常状态,其中,异常状态是预先设定的范围内的状态;获取长度为预定时长的时间段内的异常状态出现的情况,其中,异常状态出现的情况包括:待测试软件在不...该专利属于北京数码大方科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京数码大方科技股份有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种测试方法和装置。其中,该方法包括:在执行测试任务的过程中,获取待测试软件所出现的异常状态,其中,异常状态是预先设定的范围内的状态;获取长度为预定时长的时间段内的异常状态出现的情况,其中,异常状态出现的情况包括:待测试软件在不...