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一种提高扫频光学相干层析成像分辨率方法，该方法需要通过实验获得一个标准k‑clock信号，然后利用互相关运算计算出需要校正的k‑clock信号的延时。由计算出的延时，将k‑clock信号进行左右移动从而对其进行校正，并使用插值算法计算出移动...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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