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本发明涉及一种软磁铁氧体材料晶粒尺寸测量的预处理方法及测量方法。预处理方法主要包括以下步骤：将盐酸与硝酸混合并搅拌均匀，得蚀刻液；将蚀刻液置于蚀刻容器中并加热；将软磁铁氧体材料试样的待蚀刻面向上并放入蚀刻液中蒸煮；取出并用水冲洗；以及对蚀刻...
该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所授权不得商用。

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