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一种用于晶圆多点测试的探针卡，涉及半导体测试技术领域，包括PCB板，PCB板底层安置有探针基座，探针基座设有多个探针，每个探针均包括导电底板和用于接触晶圆的导电立板，所述导电底板一部分插入探针基座，一部分外露于所述探针基座，所述导电立板竖立...
该专利属于广东利扬芯片测试股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东利扬芯片测试股份有限公司授权不得商用。

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