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本发明提供一种基于自动测试设备的MARM存储器的测试方法，所述测试方法包括：步骤S1，将自动测试设备与MARM 存储器电连接；步骤S2，对MRAM存储器进行全芯片存储单元读写功能验证；步骤S3，根据MARM存储器工作参数设定要求，对MARM...该专利属于上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所授权不得商用。