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本发明涉及显微镜附接件及结合所述显微镜附接件进行样本分析的方法。显微镜附接件包含具有一或多个透镜的透镜设备、光源及样本托架。所述样本托架安置于所述透镜设备与所述光源之间，且经定位以使来自所述光源的光透射通过所述样本托架及所述透镜设备。所述透...
该专利属于豪威科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过豪威科技股份有限公司授权不得商用。

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