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本发明涉及一种CMOS传感器测试方法，主要解决现有技术中存在的不能够自动测试多种光照条件下的图像质量，不能对漏电现象进行测试的技术问题。本发明通过采用用于采集数据的数据采集装置及与用于控制所述数据采集装置统计测试总数量及各类不良数量的软件平...
该专利属于张家港市欧微自动化研发有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过张家港市欧微自动化研发有限公司授权不得商用。

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