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本发明公开了电气测试装置领域的一种能够测试并实时反馈的IC电气特性测试装置。所述测试装置包括MCU控制器，第一低压差线性稳压器模块(LDO1)、第二低压差线性稳压器模块(LDO2)、输入保护电路、LCD显示模块、按键模块、电源档位电路模块、...
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