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本发明公开了一种测量薄膜材料电光系数的装置及方法，属于电子信息材料测试领域。本发明通过薄膜分析仪、计算机、可控电压源和测试箱搭建测试平台，基于干涉原理测得薄膜材料的干涉光强随入射波长改变的实际吸收光谱曲线，然后采用计算机软件进行分析得到薄膜...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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