下载一种适用于快速三维形貌测量的二元结构光优化方法的技术资料

文档序号:15634974

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本发明公开了一种适用于快速三维形貌测量的二元结构光优化方法,其特征在于,包括如下步骤:相机、投影仪λ校正;相机标定,畸变校正;投影相移光栅条纹;投影二元结构光编码图;相移法求出光栅包裹相位,利用编码条纹求出光栅级次;求出绝对相位,完成相位去...
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