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本发明提出一种利用工业摄影测量法实现天线辐射特性测试的方法，首先根据天线设计要求，获得主反射面表面精度及副面、馈源与主反射面的几何关系，建立天线理论几何关系；再将天线理论几何关系导入测量计算机中，建立工业摄影测量基准坐标系；在天线系统电气性...
该专利属于中国电子科技集团公司第三十九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第三十九研究所授权不得商用。

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