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本实用新型涉及一种集成电路自动测试系统，包括盒体，盒体的上方设有盒盖，盒体内腔的底面上设有第一容置槽，第一容置槽内设有下基板，下基板的上方设有上基板，第一容置槽的底面上设有多个连接端子，盒体的侧壁上设有接口，下基板的上表面上开设有第二容置槽...
该专利属于北京信诺达泰思特科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京信诺达泰思特科技股份有限公司授权不得商用。

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