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本发明提供了一种原位测量非均质纳米颗粒粒径及其包覆层厚度的方法，所述方法包括以下步骤：(1)将尺寸已知的标准颗粒配制成所需质量浓度的标准溶液，在可见光波长范围内测定标准溶液的吸光度；(2)将测得的标准溶液的吸光度与瑞利散射计算强度值进行计算...
该专利属于国家纳米科学中心所有，仅供学习研究参考，未经过国家纳米科学中心授权不得商用。

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