下载用于晶圆铜层厚度多点测量的标定系统的技术资料

文档序号:15566060

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本实用新型提出一种用于晶圆铜层厚度多点测量的标定系统,包括:电涡流传感器;数据采集装置,采集电涡流传感器输出的采样信号;数据库模块,用于存储计算铜层厚度所需的多点标定表;上层控制系统,用于存储标定数据库,并接收数据采集装置传输的采样信号,并...
该专利属于天津华海清科机电科技有限公司;清华大学所有,仅供学习研究参考,未经过天津华海清科机电科技有限公司;清华大学授权不得商用。

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