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本发明公开了一种在采用超声纵波垂直入射回转体工件检测内部缺陷时，回转体工件中心与转盘旋转轴产生装夹偏心的情况下，对超声C扫描路径进行校正补偿的方法。首先通过固定的超声探头来测出工件的实际偏离量，然后计算出工件坐标系到世界坐标系的路径变换矩阵...
该专利属于中南大学所有，仅供学习研究参考，未经过中南大学授权不得商用。

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