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本发明公开了一种基于全聚焦成像算法改进边缘缺陷检测的方法，现在的全聚焦成像算法仅仅考虑当阵列换能器的波之间发射到缺陷位置上，忽略了当阵列换能器的波传播到试块底部，反射到缺陷上产生的回波信号，本发明在考虑到多模型的全聚焦算法的基础上，提出了改...
该专利属于中国计量大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量大学授权不得商用。

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