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本发明公开了一种表面缺陷检测方法，属于检测技术领域。用以解决现有表面疵病检测，存在不能在短时间内获得高分辨率的检测结果的问题。包括：将被测件设置在置物台上，当第一入射光通过被测件后形成第一散射光时，设置在被测件正上方的第一图像采集单元获取第...
该专利属于西安工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安工业大学授权不得商用。

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