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一种用于检测LED白光灯光谱质量的装置及其检测方法，取第一光电探测器和第二光电探测器分别放置于探测器光谱响应测试系统中测试其在450nm‑470nm波段和570nm‑590nm波段的平均响应度R...
该专利属于郑州航空工业管理学院所有，仅供学习研究参考，未经过郑州航空工业管理学院授权不得商用。

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