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本发明公开一种阵列基板测试电路及其制作方法。阵列基板测试电路设于基板上，基板包括至少两个显示单元，至少两个显示单元包括第一及相邻设置的第二显示单元，第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区及成盒测试电极区，第二显示单元的阵列测试电极通过第一显...
该专利属于武汉华星光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉华星光电技术有限公司授权不得商用。

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