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本发明涉及一种宽量程高阻测试电路，包括MCU、信号跟随器、若干标准电阻、滤波电容以及待测电阻；所述若干标准电阻的一端与所述MCU的IO口相连，所述若干标准电阻的另一端相连并连接至所述待测电阻的一端、所述滤波电容的一端、所述信号跟随器的正输入...
该专利属于漳州市东方智能仪表有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过漳州市东方智能仪表有限公司授权不得商用。

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