专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
思哲科技有限公司
>
用于去除在外延生长期间形成的核的方法技术
>技术资料下载
下载用于去除在外延生长期间形成的核的方法的技术资料
文档序号:15343721
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
用于去除在选择性外延生长工艺期间形成的核的方法包括在具有一个或多个掩膜层的衬底上外延生长一个或多个半导体结构的第一集合。多个半导体结构的第二集合形成在一个或多个掩膜层上。该方法还包括在一个或多个半导体结构的第一集合上形成一个或多个保护层。多...
该专利属于思哲科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过思哲科技有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。