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本发明提供一种超快透射电子显微镜系统，所述超快透射电子显微镜系统包括超快激光系统、电子枪、照明系统、成像系统、样品室、探测器和真空设备。所述超快透射电子显微镜系统能细致地测试样品在不同激光参数及环境温度下的超快结构变化过程，包括不同激发波长...
该专利属于中国科学院物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院物理研究所授权不得商用。

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