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一种IC测试座连接装置制造方法及图纸
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文档序号:15249872
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本实用新型公开了一种IC测试座连接装置,包括基板和圆柱形通孔柱,基板为厚度在3~10mm的“十”字形酚醛塑料板;圆柱形通孔柱固定在基板上,其一端与基板呈水平面,另一端超出基板2~4mm,用于焊接外部电路测试板;圆柱形通孔柱内部设置呈“十”形...
该专利属于北京同方微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京同方微电子有限公司授权不得商用。
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