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本发明涉及光学测量装置领域，具体涉及一种位姿测算光学仪器及调试方法。主要解决了现有的位姿测算仪器测算数据可信度低、不能承受严酷的力学和热学环境，位姿测算光学仪器调试过程复杂的问题。位姿测算光学仪器包括光学相机、多个激光器组件和光学镜头；所述...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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