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用于测量光学被测器件的分布式物理值的方法和装置制造方法及图纸
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下载用于测量光学被测器件的分布式物理值的方法和装置的技术资料
文档序号:15190840
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一种用于测量光学被测器件(DUT)的分布式物理值的方法,包括以下步骤:将包括在至少一个测试波长(λT)处的多个光脉冲的探测信号(3c)发射到DUT(4)中,接收由DUT(4)反向散射的至少一个光信号(4d),其中光脉冲通过至少以下步骤获得:...
该专利属于因菲博拉科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过因菲博拉科技有限责任公司授权不得商用。
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