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本发明提供了一种光热弱吸收测试装置及方法，属于光学元件吸收率的测试技术领域，所述光热弱吸收测试装置包括第一光源、第二光源、微调平台及探测器，待测样品放置于所述微调平台上。通过微调平台调节待测样品的位置，使所述第一光源发出的泵浦光经过所述待测...
该专利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院激光聚变研究中心授权不得商用。

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