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用于调谐电子装置的参数的方法。本发明涉及一种用于调谐电子装置的参数的方法。所述方法包括:测量调谐变量x;将所述所测量的调谐变量转化为表示分段调谐函数的多个调谐范围中的一个调谐范围。所述分段调谐函数表示调谐变量至参数值的映射。每个调谐范围i与...该专利属于微电子中心德累斯顿有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过微电子中心德累斯顿有限公司授权不得商用。
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用于调谐电子装置的参数的方法。本发明涉及一种用于调谐电子装置的参数的方法。所述方法包括:测量调谐变量x;将所述所测量的调谐变量转化为表示分段调谐函数的多个调谐范围中的一个调谐范围。所述分段调谐函数表示调谐变量至参数值的映射。每个调谐范围i与...