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具有互相啮合的光屏障特征的光学生理参数测量设备制造技术
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文档序号:15056410
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本申请案涉及一种具有互相啮合的光屏障特征的光学生理参数测量设备。揭示用于光学生理参数测量装置或传感器的阻光结构。此类结构可包含屏障壁及突出物,所述突出物进一步包含互相啮合的表面轮廓,所述表面轮廓经设计以按较小尺度提高阻光能力以补偿可归因于组...
该专利属于飞比特公司所有,仅供学习研究参考,未经过飞比特公司授权不得商用。
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