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本发明公开了一种用于表征材料均匀度的方法，该方法包括：选择用于测量材料的图像的感兴趣区域内的均匀度的一组尺度；抑制图像中小于在一组尺度内所选择的感兴趣尺度的特征；将图像分割成与感兴趣尺度相等的小块；以及计算每个小块内的均匀度值。...
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