温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种基于动态光弹性系统的应力测量方法，在一个实施例中，包括：进行暗场成像，并获得应力测点处的第一光强值；进行明场成像，并获得应力测点处的第二光强值；进行暗场补偿场成像，并获得应力测点处的第三光强值；基于所述第一光强值、第二光强值和...
该专利属于中国科学院声学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院声学研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。