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本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种基于电学特性判断LED器件可靠性的系统及其方法。由LCR采集模块分别采集标准LED样品和待测LED器件在不同负载下的电学信号，并由光电探测模块分别采集所述标准LED样品和待测LED器件在不同负载下的光学...
该专利属于富顺光电科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过富顺光电科技股份有限公司授权不得商用。

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