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本实用新型公开了一种用于测试中对BGA芯片进行定位的气动定位机构，其包括测试座和气缸；测试座上设有用于放置BGA芯片的定位型腔；气缸的滑动块上设有与所述定位型腔位置匹配对应的推板，且该推板沿定位型腔的对角线前后运动；推板上设有用于推动BGA...
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