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本发明公开一种基于稳态法测量粉末导热系数的装置，该装置包括真空室和恒温系统；真空室包括真空室筒体、真空室上法兰和抽真空管；真空室筒体内包括加热球、PT100铂电阻温度计、样品测试仓和传热支撑架；所述真空室筒体和与真空室上法兰连接固定；所述传...
该专利属于中国科学院理化技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院理化技术研究所授权不得商用。

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