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一种基于光干涉的位移测量方法，涉及一种位移测量方法，该方法是利用光学谐振腔对波长选择性透过的特性，通过对透射光波长的分析得到腔长，当腔长变化时，透射波长随之产生变化，光电接收装置检测并分析透射波长得出腔长变化量，通过腔长变化量计算出被测物位...
该专利属于广西科技大学鹿山学院所有，仅供学习研究参考，未经过广西科技大学鹿山学院授权不得商用。

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