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本发明涉及青铜器表面及亚表面微缺陷检测方法及系统，所述检测方法包括以下步骤：PLC控制两激光器同时发出两束中心频率不同的激光，通过光路系统集成作用于待测含缺陷青铜器表面的同一点；在待测青铜器受激光辐射同侧表面放置电容式位移传感器测量激光激发...
该专利属于山西大学所有，仅供学习研究参考，未经过山西大学授权不得商用。

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