下载基于高光谱成像技术的苹果内外品质快速无损检测方法的技术资料

文档序号:14882043

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本发明提供的基于高光谱成像技术的苹果内外品质的快速无损检测方法,利用高光谱成像系统采集苹果图谱信息,分析苹果光谱曲线的特征,并对光谱数据进行分析。然后,确定单波段图像,对其进行二次阈值分割,提取相应区域,并提取相应区域的光谱曲线。针对病害、...
该专利属于沈阳农业大学所有,仅供学习研究参考,未经过沈阳农业大学授权不得商用。

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