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本发明提供了一种优化阻挡杂质带探测器阻挡层厚度的方法，首先通过数值模拟及数据拟合得到阻挡杂质带探测器的最佳阻挡层厚度，该厚度能使探测器获得高响应率的同时也具有低的噪声，进而根据优化后的结果设计并制作了高性能阻挡杂质带探测器。该方法的优点在于...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十研究所授权不得商用。

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