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一种基于新型量子弱测量的高精密磁场计制造技术
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文档序号:14778829
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本发明公开了一种基于新型量子弱测量的高精密磁场计,其包括:LED白光源,用于产生与磁场相互作用的宽谱光子;初态制备系统,用于将LED光源产生的宽谱光子准直,并将宽谱光子的偏振态制备到所需量子态上;磁光耦合系统,用于将宽谱光子所制备的量子态和...
该专利属于中国科学技术大学所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学技术大学授权不得商用。
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