下载碳化硅半导体装置的制造方法的技术资料

文档序号:14707495

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

在正面元件结构形成后,从n‑型碳化硅基板(11)的背面(11b)离子注入p型杂质。接下来,从n‑型碳化硅基板(11)的背面(11b)照射激光,使p型杂质活化而形成p型集电层(4)。接下来,在n‑型碳化硅基板(11)的背面(11b)形成势垒金...
该专利属于富士电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过富士电机株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。