专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
通富微电子股份有限公司
>
一种半导体封装体的自然对流换热系数及热阻的侦测方法技术
>技术资料下载
下载一种半导体封装体的自然对流换热系数及热阻的侦测方法的技术资料
文档序号:14684228
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种半导体封装体的自然对流换热系数及热阻的侦测方法,包括:对所述半导体封装体建立有限元热分析模型;设定一组初始的对流换热系数,并将该组初始的对流换热系数中的每个初始对流换热系数分别对应地加载至所述热分析模型中的对应节点;在特定的...
该专利属于通富微电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过通富微电子股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。