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本发明描述了一种并行验证的验证方法,该发明可对若干个算法原理相同,但实现方式不同的逻辑设计模块进行并行验证,并将每个逻辑设计模块的结果和参考模型的预期计算结果进行比对,产生比对结果。该发明将把多个逻辑模块信号接口的差异性,封装在验证平台的最...该专利属于北京中电华大电子设计有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京中电华大电子设计有限责任公司授权不得商用。
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本发明描述了一种并行验证的验证方法,该发明可对若干个算法原理相同,但实现方式不同的逻辑设计模块进行并行验证,并将每个逻辑设计模块的结果和参考模型的预期计算结果进行比对,产生比对结果。该发明将把多个逻辑模块信号接口的差异性,封装在验证平台的最...