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本发明提供了一种太阳能硅晶片缺陷检测系统，包括：视觉图像采集系统、图像处理系统和分拣系统；所述视觉图像采集系统用于在硅晶片自动生产线上自动采集硅晶片的图像，所述图像处理系统用于分析采集到的硅晶片图像，并对硅晶片图像进行自动识别，并将识别的信...
该专利属于佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院所有，仅供学习研究参考，未经过佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院授权不得商用。

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