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本申请提供一种遗留物检测装置、方法和系统，其中，所述装置包括：检测单元，其将获取到的当前帧的每个像素与其背景模型进行匹配，将不匹配的像素作为前景像素在前景掩膜上标记，将每个前景像素对应的前景计数器加1，并更新所述背景模型；标记单元，其对于每...
该专利属于富士通株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过富士通株式会社授权不得商用。

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