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本发明公开了SOT外形集成电路芯片测试分选装置，包括上料机构、测试轨道、分离器、分类存贮模块、工控机和若干测试站；测试轨道的始端与上料机构相邻，末端与分类存贮模块相邻；当装置工作时，分离器对微型芯片在测试轨道上的输送进行控制使芯片有序地到达...
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