专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
重庆大学
>
GHz硅基ScAlN薄膜谐振器及其制作方法技术
>技术资料下载
下载GHz硅基ScAlN薄膜谐振器及其制作方法的技术资料
文档序号:14586769
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种GHz硅基ScAlN薄膜谐振器,包括由上至下依次排列的IDT层、第一功能层、第一公共地电极层、第二公地电极层、晶种层、顶层SiO2层、第二功能层、中间夹层SiO2层、结构层和第一Al层,所述IDT层图形化后形成叉指电极和位于...
该专利属于重庆大学所有,仅供学习研究参考,未经过重庆大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。