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本发明公开了一种提高小尺寸金氧半场效晶体管测试稳定性的方法，属于服务器电子零部件技术领域。所述提高小尺寸金氧半场效晶体管测试稳定性的方法，基于金氧半场效晶体管的尺寸、引脚间距以及引脚宽，设计相关尺寸的测试治具，使焊接测试引脚到零件上时稳定存...
该专利属于浪潮电子信息产业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浪潮电子信息产业股份有限公司授权不得商用。

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