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本发明提出一种IC卡芯片划痕面积及灰度参量的高精度测量方法，包括7个步骤；划痕检测前，通过CCD采集干净无划痕购电卡芯片作为标准基图，将另外取干净无划痕购电卡，插入卡槽进行插拔试验，通过CCD扫描待测购电卡，与基图比较，分析出不同之处即是划...该专利属于国家电网公司;国网安徽省电力公司电力科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过国家电网公司;国网安徽省电力公司电力科学研究院授权不得商用。