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本发明公开了一种基于近性干扰源和环境变化的测量偏差弥合方法，包括以下步骤：获取多个干扰源；对多个干扰源进行试验，以确定影响测量精度的干扰源；通过环境试验箱和预设信号源测试影响测量精度的干扰源，以获取干扰因子及变化趋势曲线图；根据干扰因子及变...
该专利属于张殿国所有，仅供学习研究参考，未经过张殿国授权不得商用。

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