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本发明提供了一种半导体激光器光源体最佳温度检测方法，其特征在于包括以下步骤：中央控制器检测不同温度下光源体的光强信号，获得光源体温度与光强的对应曲线；在光源体温度与光强的对应曲线的拐点处温度值为中间值取多个指定温度；中央控制器控制光源体达到...
该专利属于江汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过江汉大学授权不得商用。

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